В России создан многоволновой рентгеновский рефлектометр для диагностики наноструктур

Физики и инженеры-электронщики из Физического института им. П. Н. Лебедева РАН и конструкторы из Института рентгеновской оптики создали и уже вывели на рынок многоволновой рентгеновский рефлектометр для диагностики наноструктур. Разработка оказалась настолько удачной, что первый же образец установки был коммерциализирован.

В России создан многоволновой рентгеновский рефлектометр для диагностики наноструктурРентгеновская рефлектометрия применяется для бесконтактной неразрушающей диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур. С помощью этого метода можно определить толщину слоев нанопленок или шероховатость поверхностей, период многослойных наноструктур и диффузионное размытие внутренних границ раздела.

Разработанный ФИАН и ИРО многоволновой рефлектометр X-Ray MiniLab-N (N — количество исходно возможных аналитических функций) по сравнению с существующими одноволновыми рефлектометрами имеет более высокие метрологические характеристики, впервые позволяет проводить одновременные измерения на нескольких длинах волн и обеспечивает новые диагностические возможности анализа поверхности слоев. Под аналитическими функциями, по совокупности которых установка не имеет мировых аналогов, имеются в виду такие методики исследований, как рефлектометрия, дифрактометрия, рефрактометрия, малоугловое рассеяние, рентгено-флуоресцентный анализ и др.

Из-за совмещения большого количества методик исследований в одной установке система носит статус мини-лаборатории. При этом количество необходимых аналитических функций определяется конкретно под каждого заказчика в соответствии с его задачами и потребностями.

Идея установки родилась в Физическом институте им. П. Н. Лебедева; ее авторами являются доктор физ.-мат. наук Александр Турьянский (руководитель проекта), доктор физ.-мат. наук Александр Виноградов и кандидат технических наук Игорь Пиршин. В начале 2000-х они запатентовали разработанную ими измерительную схему двухволнового рефлектометра и создали экспериментальный макет установки (на котором, кстати говоря, работают до сих пор). Ну а в коммерциализации изобретения деятельно помогли сотрудники Института рентгеновской оптики.

«Мы активно экспериментируем, поэтому и система проектировалась с тем, чтобы ее всегда можно было модернизировать с целью проведения дополнительных исследований. Поэтому оператор, работающий на X-Ray MiniLab-N, может установить на прибор необходимые дополнительные устройства, наращивающие его аналитические возможности», — комментирует старший научный сотрудник Александр Турьянский.

Это существенно отличает многоволновой рефлектометр X-Ray MiniLab-N от «принципиально подобных» зарубежных систем (не от аналогов, так как их нет!), потому что зарубежные производители не разрешают менять что-либо в своих установках; в противном случае прибор не только снимут с гарантии, но и лишат технического обслуживания. При коммерциализации мини-лаборатории авторы поступили иначе: они определяют окончательную конфигурацию системы вместе с заказчиком.

Кстати, первый заказчик, Московский институт электронной техники (МИЭТ), уже работает на установке. Его мини-лаборатория, ставшая первым коммерческим образцом, наделена пятью аналитическими функциями, а потому, согласно условленному правилу, называется X-Ray MiniLab-5. «Система безотказна, и заказчик очень доволен. Ну а сейчас получен еще один заказ — от Южного федерального университета (Ростов-на-Дону ), для которого мы вот-вот начнем изготовление второго коммерческого образца. А пока ростовчане определяются с количеством необходимых аналитических функций», — поясняет Александр Турьянский.

Представляется, что разработанная в ФИАН и ИРО мини-лаборатория будет востребована для диагностики наноструктур российского производства. «Недавно мы проводили сравнительные испытания с одним из лучших образцов зарубежного представителя, который поставляет похожее оборудование. Название говорить не буду, но могу сказать, что система установлена в Институте стали и сплавов. Тесты были независимыми, то есть ни одна из сторон в них не участвовала. Так вот, в рентгенооптических измерениях тонких пленок наша мини-лаборатория показала себя лучше, чем существенно более дорогая зарубежная система», — подытоживает Александр Турьянский.

Подготовлено по материалам Физического института им. П. Н. Лебедева РАН.


Источник


Warning: fopen(/home/astrogor/public_html/vekperevoda.org/articles/components/com_sef/cache/easysef_cache_content.php) [function.fopen]: failed to open stream: Permission denied in /home/astrogor/public_html/vekperevoda.org/articles/components/com_sef/easysef_cache.php on line 106